Автор: О. М. Жигалина

. Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам

Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам

О. М. Жигалина

Рассмотрены методы расчета основных характеристик точечных и линейных дефектов кристаллического строения металлов, дислокационные реакции для металлов с различными решетками, критерии их оценки, а также случаи взаимодействия точечных дефектов с...
. Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам

Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам

О. М. Жигалина

Рассмотрены методы построения стереографических проекций, решение базовых задач кристаллографического анализа структуры материалов с применением сетки Вульфа, а также описание структур металлов и их соединений в терминах теории плотнейших...
. Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств

Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств

О. М. Жигалина

Изложены основные понятия, относящиеся к науке о строении и свойствах сегнетоэлектрических материалов. Рассмотрены примеры применения и перспективы использования сегнетоэлектрических пленок в интегрированных устройствах современной...

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.