Автор: Джи Лиу

. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Джи Лиу

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок,...

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.