Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Джи Лиу
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
- Категория: зарубежная образовательная литература
- Правообладатель: Лаборатория знаний
- Год написания: 2006
- Возрастное ограничение: 12+
- ISBN: 978-5-00101-142-2
- Легальная стоимость: 1210.00 руб.
Читать книгу «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
