Автор: Р. Ш. Загидуллин

Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки...