Главная
Разделы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Авторы
Черновики
FAQ
Правообладателям
Главная
Правообладателям
FAQ
Разделы
Авторы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Главная
Mario Birkholz
Автор: Mario Birkholz
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Mario Birkholz
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the...
Перейти и скачать
Оставайтесь на связи
Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
Библиотека
Разделы
Авторы
Черновики
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Помощь
Правообладателям
FAQ
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.