Автор: Владимир Бублик
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Владимир Бублик
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ....
Методы исследования структуры кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки
Владимир Бублик
Данное пособие поможет студентам освоить методики определения фазового состава и прецизионного изменения межплоскостных расстояний, широко используемых в материаловедческой практике.
