Главная
Разделы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Авторы
Черновики
FAQ
Правообладателям
Главная
Правообладателям
FAQ
Разделы
Авторы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Главная
Rolf-Peter Vollertsen
Автор: Rolf-Peter Vollertsen
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Rolf-Peter Vollertsen
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor...
Перейти и скачать
Оставайтесь на связи
Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
Библиотека
Разделы
Авторы
Черновики
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Помощь
Правообладателям
FAQ
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.