Автор: Юрий Ягодкин
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
Юрий Ягодкин
В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и...
Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений
Юрий Ягодкин
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских...
