Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Владимир Бублик
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
- Категория: прочая образовательная литература
- Правообладатель: МИСиС
- Год написания: 2006
- Возрастное ограничение: 0+
- Легальная стоимость: 392.00 руб.
Читать книгу «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
