Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
Jingdong Chen
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale • Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology • Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories • Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
- Категория: электроника
- Правообладатель: John Wiley & Sons Limited
- Возрастное ограничение: 0+
- ISBN: 9781118717981
- Легальная стоимость: 17597.10 руб.
Читать книгу «Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
