Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
4.95 из 5, отдано 11 голосов
Скачать Читать онлайн
None
Скачать Читать онлайн
  • Категория: материаловедение
  • Правообладатель: John Wiley & Sons Limited
  • Возрастное ограничение: 0+
  • ISBN: 9783527833948
  • Легальная стоимость: 10621.86 руб.

Читать книгу «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» онлайн:

Комментарии ():

Вам также может понравиться:

Владимир Портной. Механические свойства металлов. Статические испытания
Механические свойства металлов. Статические испытания
Владимир Портной
Группа авторов. Leichtbau
Leichtbau
Группа авторов
Группа авторов. 2D Monoelements
2D Monoelements
Группа авторов
Volkan Cicek. Corrosion Engineering and Cathodic Protection Handbook
Corrosion Engineering and Cathodic Protection Handbook
Volkan Cicek

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.
Your Lib Audio