Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
2.85 из 5, отдано 25 голосов
None
  • Категория: материаловедение
  • Правообладатель: John Wiley & Sons Limited
  • Возрастное ограничение: 0+
  • ISBN: 9783527833948
  • Легальная стоимость: 10621.86 руб.

Читать книгу «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» онлайн:

Комментарии ():

Вам также может понравиться:

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.