Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
4.5 из 5, отдано 8 голосов
Скачать Читать онлайн
None
Скачать Читать онлайн
  • Категория: материаловедение
  • Правообладатель: John Wiley & Sons Limited
  • Возрастное ограничение: 0+
  • ISBN: 9783527833948
  • Легальная стоимость: 9187.23 руб.

Читать книгу «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» онлайн:

Комментарии ():

Вам также может понравиться:

В. И. Киреев. Сглаживание экспериментальных данных интегро-дифференциальными параболическими сплайнами и методом наименьших квадратов
Сглаживание экспериментальных данных интегро-дифференциальными параболическими сплайнами и методом наименьших квадратов
В. И. Киреев
Группа авторов. Processing and Properties of Advanced Ceramics and Composites II
Processing and Properties of Advanced Ceramics and Composites II
Группа авторов
Группа авторов. Mechanical Properties and Performance of Engineering Ceramics and Composites V, Volume 31, Issue 2
Mechanical Properties and Performance of Engineering Ceramics and Composites V, Volume 31, Issue 2
Группа авторов
Юрий Некрасов. Сборник задач по материаловедению
Сборник задач по материаловедению
Юрий Некрасов

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.
Your Lib Audio