Главная
Разделы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Авторы
Черновики
Правообладателям
Главная
Правообладателям
FAQ
Разделы
Авторы
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Главная
материаловедение
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of...
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Andrew Thye Shen Wee
3.3
из 5, отдано 9 голосов
Скачать
Читать онлайн
None
Скачать
Читать онлайн
Категория:
материаловедение
Правообладатель:
John Wiley & Sons Limited
Возрастное ограничение:
0
+
ISBN:
9783527833948
Легальная стоимость:
8698.92
руб.
Читать книгу «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» онлайн:
Комментарии (
):
Вам также может понравиться:
Nanomembranes
Группа авторов
Transition Metal Oxides for Electrochemical Energy Storage
Группа авторов
Van der Waals Ferroelectrics
Juras Banys
Сборник авторских физико-технических идей и решений в области новых материалов
Владимир Хаустов
Оставайтесь на связи
Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
Библиотека
Разделы
Авторы
Черновики
Лучшее
За полгода
За неделю
За день
Помощь
Правообладателям
FAQ
© 2011-2026. Your Lib. All Rights Reserved.