Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Andrew Thye Shen Wee. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
3.1 из 5, отдано 17 голосов
Скачать Читать онлайн
None
Скачать Читать онлайн
  • Категория: материаловедение
  • Правообладатель: John Wiley & Sons Limited
  • Возрастное ограничение: 0+
  • ISBN: 9783527833948
  • Легальная стоимость: 9371.47 руб.

Читать книгу «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» онлайн:

Комментарии ():

Вам также может понравиться:

Jing-Feng Li. Lead-Free Piezoelectric Materials
Lead-Free Piezoelectric Materials
Jing-Feng Li
Анна Педос. Материаловедение
Материаловедение
Анна Педос
Группа авторов. Advances in Ceramic Armor VIII, Volume 33, Issue 5
Advances in Ceramic Armor VIII, Volume 33, Issue 5
Группа авторов
John F. Watts. An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
John F. Watts

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.
Your Lib Audio