Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронномикроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов
Николай Полушин
В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.
- Категория: материаловедение
- Правообладатель: МИСиС
- Год написания: 2014
- Возрастное ограничение: 0+
- Легальная стоимость: 96.00 руб.
Читать книгу «Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронномикроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
