Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Дмитрий Крутогин
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
- Категория: материаловедение
- Правообладатель: МИСиС
- Год написания: 2013
- Возрастное ограничение: 0+
- Легальная стоимость: 120.00 руб.
Читать книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
