Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Марина Воронова
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
- Категория: материаловедение
- Правообладатель: МИСиС
- Год написания: 2016
- Возрастное ограничение: 0+
- Легальная стоимость: 340.00 руб.
Читать книгу «Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
