Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Юрий Раков. Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Юрий Раков. Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
3.45 из 5, отдано 6 голосов
В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.
  • Категория: учебники и пособия для вузов
  • Правообладатель: Новосибирский государственный технический университет
  • Возрастное ограничение: 0+
  • ISBN: 978-5-7782-1618-1
  • Легальная стоимость: 115.00 руб.

Читать книгу «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5» онлайн:

Комментарии ():

Вам также может понравиться:

Оставайтесь на связи

Будьте в курсе новостей о выходящих книгах, подпишитесь на нашу еженедельную рассылку:
© 2011-2024. Your Lib. All Rights Reserved.