Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости
4.75 из 5, отдано 5 голосов
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных, указаны требования к отчету. В конце описания лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки студентов и список рекомендованной литературы.
-
Категория: учебники и пособия для вузов
-
Правообладатель: Новосибирский государственный технический университет
-
Год написания: 2011
-
Возрастное ограничение: 0+
-
ISBN: 978-5-7782-1667-9
-
Легальная стоимость: 40.00 руб.
Читать книгу «Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости» онлайн: