Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
3.0 из 5, отдано 10 голосов
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурьеспектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
-
Категория: учебники и пособия для вузов
-
Правообладатель: Новосибирский государственный технический университет
-
Год написания: 2012
-
Возрастное ограничение: 0+
-
ISBN: 978-5-7782-1924-3
-
Легальная стоимость: 45.00 руб.
Читать книгу «Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии» онлайн: