Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
И. О. Атовмян
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
- Категория: программирование
- Правообладатель: Синергия
- Год написания: 2014
- Возрастное ограничение: 0+
- Легальная стоимость: 96.00 руб.
Читать книгу «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» онлайн:
Комментарии ():
Вам также может понравиться:
